Dear ChenPlease refer to disposal way of low yield lots as below on th 번역 - Dear ChenPlease refer to disposal way of low yield lots as below on th 한국어 말하는 방법

Dear ChenPlease refer to disposal w

Dear Chen
Please refer to disposal way of low yield lots as below on the basis of an engineer’s opinion
PTU13005G
Mode : hFE low with 5~6 (SPEC : hFE(100uA) min7.0 )
Cause : Some of the wafer can’t meet hFE specification
Disposal of Products : Ship Good products and Scrap fail products

PFU3N90
Mode : CURVE ( IDSS leakage high) /Distribution of IDSS 200~970nA
Cause : Not clear / Need to investigate cause of low yield
=>. PDK engineer suggests that the Test equipment is needed to verify if there is any problem and/ or any difference among test machines
=>. Please perform retest for failure units by using another test equipment which was not used before
=>. please submit electrical retest result with another test equipment and the photos of the BVdss Curve Tracer for good and fail respectively

Thanks and best regards
Tom Choi.


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결과 (한국어) 1: [복제]
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친애 하는 총통많이 낮은 수익률으로 아래는 엔지니어의 의견에 근거 하 여 처분 방법을 참조 하십시오 PTU13005G모드: hFE 낮은 5 ~ 6 (사양: hFE(100uA) min7.0)원인: 일부는 웨이퍼의 hFE 사양 충족 시킬 수 없다 제품의 처리: 배 좋은 제품과 스크랩 실패 제품 PFU3N90 모드: IDSS 200의 곡선 (IDSS 누설 높은) /Distribution ~ 970nA원인: 명확 하지/낮은 수율의 원인을 조사 해야 = >. PDK 엔지니어 제안 테스트 장비에 대 한 어떤 문제 및/또는 테스트 컴퓨터 중에서 어떤 차이가 있는지 확인 필요 = >. 제발 전에 사용 되지 않은 다른 테스트 장비를 사용 하 여 실패 단위에 대 한 재 시험을 수행= >. 다른 시험 장비 및 좋은 BVdss 커브 트레이 서의 사진과 함께 전기 재 시험 결과 제출 하 고 각각 실패 하십시오 감사와 최상의 안부톰 최입니다.
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친애하는 첸
아래 엔지니어의 의견을 기준으로 낮은 수익률을 많이 처분 방법을 참조하십시오
PTU13005G
모드 : 5 ~ 6 낮은 HFE (SPEC : HFE (100uA의) min7.0)
원인 : 웨이퍼의 일부는 충족 할 수 HFE 사양
제품의 폐기 : 선박 좋은 제품과 스크랩 제품 실패 PFU3N90 모드 : CURVE (높은 IDSS 누설) IDSS 200 ~ 970nA의의 / 유통 원인 : 명확하지 / 낮은 수율의 원인을 조사 할 필요가 > =. PDK 엔지니어 테스트 장비 문제 및 / 또는 테스트 시스템 사이에 어떤 차이가 있는지 확인하기 위해 필요하다는 것을 시사한다 =>. 이전에 사용되지 않은 다른 테스트 장비를 사용하여 실패 단위에 대한 재시험을 수행하십시오 =>를. 다른 테스트 장비 및 좋은에 대한 BVDSS 커브 트레이서의 사진과 함께 전기 재시험 결과를 제출하고 각각 실패하시기 바랍니다 감사합니다 안부 톰 최.












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친애하는 총통 참조하십시오
폐기 방식의 낮은 수익률은 아래의 기초를 엔지니어의 의견
PTU13005G
Mode : 낮은 투입한 5~6(spec : hFE(100uA) min7.0)
원인 : 일부의 웨이퍼 CA 만나지 않 투입한 사양
폐기의 제품 : 배 좋은 제품과 불량하지 못할 제품

PFU3N90
모드 : 곡선( IDS 누출)/ 배포의 IDS 200~970nA
Cause :분명하지 않음 / 낮은 수익률의 원인을 조사하여
=>가 필요합니다. PDK 엔지니어는 테스트 장비 문제는 전혀 및/또는 테스트 시스템 중
=>에 차이가 있는지 확인하는 데 필요한 좋습니다. 다시 테스트 실패 장치의 경우
=> 이전에 사용한 적이 없는 또 다른 시험 장비를 사용하여 수행하시기 바랍니다.전기 테스트 결과 다른 테스트 장비와 bvdss 커브트레이서의 사진과 함께 각각 좋은 및 실패

감사합니다 감사합니다
톰 최 제출해 주십시오.


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