A glass, polyethylene, or other che

A glass, polyethylene, or other chemically nonreactive beaker having a diameter equal to twice the diameter measured over the specimen of partially uncoiled conduit was filled with the solution of copper sulphate to a depth of not less than 3 inches (76 mm). The temperature of the solution was maintained at 18.3  1.1°C (65.0  2.0°F).

One of the selected specimens was immersed in the solution and supported on end in the center of the beaker so that no less than half of its axial length was immersed. The specimen remained in the solution for 60 seconds during which time was not moved nor was the solution stirred.

At the end of the 60 second period, the specimen was removed from the beaker, rinsed immediately in running tap water, rubbed with clean cheesecloth (a clean soft-bristle test-tube or bottle brush in good condition and of applicable size was used to rub the interior surfaces of the specimen of partially uncoiled conduit, but cheesecloth was used on the other surfaces of this specimen and on the unformed strip) until any loosely adhering deposits of copper were removed, and was then dried with clean cheesecloth. The turns of the specimen of partially uncoiled conduit were not further separated during this process. Again, the hands and other damaging and contaminating objects and substances did not touch the surfaces that were immersed. The part of the specimen that was immersed was examined, considering each broad surface separately and disregarding the portion of the specimen within 1/2 inch (13 mm) of its immersed end.

If the part of the specimen that was immersed had any bright deposit of firmly adhering metallic copper outside the 1/2 inch (13 mm) end portion, an estimate was made and recorded of the percentage of each broad surface that was covered with copper.


Regardless of whether the first dip resulted in a bright, adherent deposit of copper, the immersion, washing, rubbing, drying, examining, estimating, and recording operations were repeated once using the same specimen and beaker of solution. After the second dip, the solution in the beaker was discarded.

The remaining specimen was subjected to the 2-dip procedure described in 1 to 5.

결과 (독일어) 1:

Ein Glas, Polyethylen oder andere chemisch nichtreaktiven Becher mit ein Durchmesser gleich zweimal dem Durchmesser, gemessen über die Probe teilweise abgewickelten Conduit mit der Lösung von Kupfersulfat bis zu einer Tiefe von nicht weniger als 3 Zoll (76 mm) gefüllt war. Die Temperatur der Lösung wurde auf 18,3  1,1 ° C (65,0  2,0 ° F) gehalten.Eines der ausgewählten Exemplare wurde in die Lösung getaucht und am Ende in der Mitte des Bechers unterstützt, so dass nicht weniger als die Hälfte seiner axialen Länge eingetaucht war. Das Exemplar blieb in der Lösung für 60 Sekunden, während die Zeit wurde nicht verschoben, noch wurde die Lösung gerührt.Am Ende der 60-Sekunden-Periode, die Probe von den Becher gespült sofort unter fließendem Leitungswasser, rieb mit sauberen Gaze entfernt wurde (eine sauberen weichen-Reagenzglas oder Flasche Bürste in gutem Zustand und der anwendbaren Größe wurde verwendet, um die inneren Oberflächen der Probe von teilweise abgewickelten Conduit zu reiben, aber Gaze diente auf den anderen Flächen dieses Exemplars und auf dem Ungeformten Strip) bis alle Lose anhaftenden Ablagerungen von Kupfer entfernt wurden , und war danach mit sauberen Gaze getrocknet. Die Kurven der Probe teilweise abgewickelten Leitung wurden während dieses Vorgangs nicht weiter getrennt. Die Hände und andere gefährden und verunreinigen, Gegenstände und Substanzen wiederum nicht die Oberflächen berühren, die eingetaucht wurden. Der Teil der Probe, die eingetaucht war wurde untersucht, unter Berücksichtigung jeder breite Fläche getrennt und unter Missachtung des Teils der Probe innerhalb 1/2 Zoll (13 mm) seines eingetauchten Endes.Hätte der Teil der Probe, die eingetaucht war jede helle Einzahlung fest anhaftenden metallischen Kupfer außerhalb der Endbereich 1/2 Zoll (13 mm), war eine Schätzung gemacht und der Prozentsatz jeder breite Fläche, die mit Kupfer überzogen war. Unabhängig davon, ob der erste Sprung in eine helle, anhaftende Ablagerung von Kupfer, eintauchen, waschen, reiben, geführt wurden trocknen, Prüfung, Schätzung und Aufnahme Operationen wiederholt einmal mit der gleichen Probe und Becher mit Lösung. Nach der zweiten Runde war die Lösung im Becherglas verworfen.Das verbleibende Exemplar wurde in 1 bis 5 beschriebenen 2-Bad-Verfahren unterzogen.

결과 (독일어) 2:

Ein Glas, Polyethylen oder einem anderen chemisch nicht reaktiv Becher mit einem Durchmesser , der gleich dem doppelten Durchmesser gemessen über die Probe von teilweise abgewickelte Leitung wurde mit der Lösung von Kupfersulfat bis zu einer Tiefe von nicht weniger als 3 Zoll (76 mm) gefüllt. Die Temperatur der Lösung wurde bei 18,3 gehalten  1,1 ° C (65,0  2,0 ° F).

Eine der ausgewählten Proben wurde in der Lösung und unterstützt auf Ende in der Mitte des Becherglases eingetaucht , so daß nicht weniger als die Hälfte seiner axialen Länge wurde eingetaucht. Die Probe blieb in der Lösung für 60 Sekunden , während welcher Zeit nicht bewegt wurde , noch wurde die Lösung gerührt.

Am Ende der 60 - Sekunden - Periode, die Probe aus dem Becherglas entnommen, gespült sofort in fließendem Leitungswasser, rieb mit sauberen Mulltuch ( ein sauberes , weiches Borstenretorten oder Flaschenbürste in gutem Zustand und anwendbar Größe verwendet wurde , um die Innenflächen der Probe von teilweise abgewickelten Leitung zu reiben, aber Mull wurde auf den anderen Oberflächen dieser Probe und auf dem ungeformten Streifen verwendet wird ) bis alle lose Ablagerungen von anhaftenden Kupfer wurden entfernt, und wurde dann mit sauberem cheesecloth getrocknet. Die Windungen der Probe von teilweise abgewickelte Leitungs wurden weiter während dieses Vorgangs nicht getrennt. Auch hier berühren sich die Hände und andere schädliche und verunreinigen Gegenstände und Stoffe nicht die Flächen , die eingetaucht waren. Der Teil der Probe , die wurde getaucht geprüft, jede breite Fläche unter Berücksichtigung separat und ohne Berücksichtigung des Teils der Probe innerhalb von 1/2 Zoll (13 mm) seiner getaucht Ende.

Wenn der Teil der Probe , die untergetaucht wurde , hatte jede helle Ablagerung von fest metallischem Kupfer außerhalb des 1/2 Zoll (13 mm) Endteil anhaftet, wurde eine Schätzung gemacht und der Prozentsatz jeder breiten Fläche aufgezeichnet , die mit Kupfer. bedeckt war


Unabhängig davon , ob die erste Dip führte zu einem hellen, anhaftende Ablagerung Kupfer, das Eintauchen, Waschen, Reiben, Trocknen, untersuchen, Schätzen und Aufzeichnungsvorgänge wurden wiederholt , einmal die gleiche Probe und Becher - Lösung. Nach dem zweiten Tauch wurde die Lösung im Becherglas verworfen.

Wurde die verbleibende Probe in die in 1 bis 5 beschriebenen 2-Dip Verfahren unterzogen.

결과 (독일어) 3:

ein glas - oder anderen chemisch keine reaktion becher mit einem durchmesser gleich dem doppelten durchmesser gemessen über das exemplar von teilweise vorzubereiten - war gefüllt mit der kupfersulfatlösung bis zu einer tiefe von nicht weniger als 3 cm (76 mm).die temperatur der lösung hielt auf 18,3  1,1 ° c (65  2.0 ° f).einer der ausgewählten proben war eingebettet in die lösung unterstützt und am ende in der mitte der becher, um nicht weniger als die hälfte seiner axial länge befand.die probe war die lösung für 60 sekunden, während der zeit nicht auch die lösung gerührt.am ende der 60 - sekunden - periode, die probe entnommen wurde der behälter gespült, sofort in fließendem leitungswasser ab, rieb mit sauberen tuch fließt (saubere weichen borste reagenzglas oder flasche pinsel in gutem zustand und für die größe wurde zu reiben sie die innere oberfläche der probe teilweise vorzubereiten -, sondern nur baumwoll verwendet wurde auf der anderen flächen dieses muster und die vorhandenen streifen), bis alle lose an vorkommen an kupfer wurden entfernt, und dann getrocknet mit einem sauberen tuch fließt.die macht der probe teilweise vorzubereiten - nicht weiter voneinander getrennt in diesem prozess.auch die hände und andere schädliche und kontaminieren gegenstände und substanzen nicht berühren die oberflächen, getaucht.die probe war eingebettet wurde untersucht, indem sie jedes große oberfläche getrennt und unter missachtung der teil der probe in 1 / 2 zoll (13 mm), die eingebettet.wenn die probe war eingebettet hatte eine helle hinterlegung fest an metallischem kupfer außerhalb der 1 / 2 zoll (13 mm) ende teil, eine schätzung wurde aufgenommen, und der anteil der einzelnen großen oberfläche war bedeckt mit kupfer.unabhängig davon, ob die erste runde zu einem hellen, anhänger einzahlung von kupfer, das eintauchen, waschen, reiben, trocknen, prüfung der schätzung, und die erfassung der transaktionen waren wiederholt mit dem gleichen muster und becher lösung.nach dem zweiten sprung, die lösung in den becher wurde verworfen.die verbleibenden exemplar ausgesetzt war, die 2-dip beschriebenen verfahren in 1 bis 5.